統計製程管制(SPC)的計量型管制圖公式
Statistical Process Control
製程能力分析(Process
Capability Analysis)
數據常因測定單位不同,而無法相互比較製程特性在品質上的好壞。因此,定義出品質指標來衡量不同特性的品質,在工業上是很重要的一件事情。 製程能力指數是依特性值的規格及製程特性的中心位置及一致程度,來表示製程中心的偏移及製程均勻度。基本上,製程能力分析必須先假設製程是在管制狀態下進行 ,也就是說製程很穩定,以及特性分配為常態分配;如此,數據的分析才會有合理的依據。
數據常因測定單位不同,而無法相互比較製程特性在品質上的好壞。因此,定義出品質指標來衡量不同特性的品質,在工業上是很重要的一件事情。 製程能力指數是依特性值的規格及製程特性的中心位置及一致程度,來表示製程中心的偏移及製程均勻度。基本上,製程能力分析必須先假設製程是在管制狀態下進行 ,也就是說製程很穩定,以及特性分配為常態分配;如此,數據的分析才會有合理的依據。
●製程能力指數Cp、Pp、CPU、CPL(精密度;Precision): 表示製程特性的一致性程度,值越大越集中,越小越分散。 |
: 雙邊能力指數(長期);適用於X-R,X-Rm圖 |
: 雙邊能力指數(長期);適用於X-S圖 |
: 雙邊績效指數(短期) |
: 單邊上限能力指數 |
: 單邊下限能力指數 |
USL: 規格上限 LSL: 規格下限 : 製程平均數估計值 : 製程標準差估計值 |
●製程能力指數Ca或k(準確度;Accuracy):
表示製程特性中心位置的偏移程度,值等於零,即不偏移。值越大偏移越大,越小偏移越小。 |
●綜合製程能力指數Cpk: 同時考慮偏移及一致程度。 Cpk = ( 1 - k ) x Cp 或 MIN {CPU,CPL} Ppk = ( 1 - k ) x Pp 或 MIN {PPU,PPL} |
●X bar-R管制圖的管制界限 |
●X med-R管制圖的管制界限 |
●X-Rm管制圖的管制界限 |
●X bar-S管制圖的管制界限 |